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第八届全国可靠性物理学术讨论会

总文献量: 60篇会议类型: 国内会议会议地点: 嘉峪关主办单位: 中国电子学会会议日期: 1999-09-21

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CA固体钽电容失效问题归零

穆武林

改善晶体管稳态工作寿命试验方法的技术措施

张德骏曹红贾颖苗庆海王家俭张兴华

组件功率晶体管热阻测试与分析

何小琦

MCM-C多层基板的主要失效模式及机理研究

陈亿何小琦王洪恩

神经网络预测模型来评价电子元件的可靠性

李玉斌

高频C—V法在肖特基势垒接触退化失效分析中的应用

费庆宇

红外热象测试与瞬态热阻的关系

章海良

微波功率晶体管热特性的仿真研究

张增照朱启新莫郁薇王宛平周桂玉

电机伺服电路HMS501J的失效模拟和定位分析

师谦谭超元

CCD芯片漏电的液晶失效定位分析

姜小波刘发何小琦

电子元器件内部气氛分析技术

蔡懿吴文章

FIB修补技术在集成电路可靠性失效分析中的应用

张东明葛岩夏增浪贾淑文

光电耦合器失效模式及其机理分析

徐爱斌李少平欧叶芳郑廷圭

开展电子、电磁和电气元器件的DPA研究

邓永孝

CMOS集成电路静电击穿机理的研究

于宗光王成王万业

TiAl和TiPtAu栅GaAs MESFET可靠性实验研究

张万荣李志国孙英华程尧海陈建新沈光地

国产半导体分立器件的失效模式分布及其机理

杨家铿

MOS器件寿命的快速评价方法

章晓文

现代工业中的微电子与可靠性技术

恩云飞

Au-Al键合系统的退化模型

谭超元

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