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第八届全国可靠性物理学术讨论会

总文献量: 60篇会议类型: 国内会议会议地点: 嘉峪关主办单位: 中国电子学会会议日期: 1999-09-21

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宽带双路旋转交连的可靠性分析

殷连生

故障模式、影响分析在工程中的应用

周法强马聪颖

微电子器件可靠性动态跟踪

黎想范焕章

影响半导体器件加速寿命试验结果准确性的几个问题

金毓铨

探索用静态小电流参数表征CMOS电路的静电放电（ESD）潜在损伤

来萍刘发

高抗电迁徙金属化系统——回流加固结构优化设计

孙英华李志国程尧海张万荣

数码管常见失效模式与机理分析

王宏全

PtSi红外焦平面探测器芯片漏电分析

姜小波刘发

电子元件高加速寿命试验及高加速应力筛选

王锡清

提高压电衬度像的分辨率的研究

施明哲

新一代金属化安全膜防爆电容器

高儒昌

检漏方法的理解与应用

陈士新

有机沾污引起继电器失效的机理研究

孙静胡会能郭莉

型号用电感式压差传感器焊缝断裂失效分析

韩露

超大规模集成电路中ESD保护电路的研究

夏增浪李荫波何卫高宝嘉

MAL100A光电晶体管失效机理分析与改进措施

罗宏伟郑廷圭

某产品控制部件研制中FMECA的实践与体会

杨虹剑王玉航

P波段硅脉冲功率管可靠性研究

崔恩录

混合集成电路金属封装底座热变形的实验研究

王卫宁贾松良刘杰戴福隆

VLSI中金属化晶粒结构与工艺之间的相关性研究

焦慧芳孔学东孙青施明哲扬文徐征