国产半导体分立器件的失效模式分布及其机理

摘要：

本文在广泛收集、深入分析国产半导体分立器件试验、使用失效模式的基础上，统计得各类半导体分立器件的工作失效模式分布。进而，探讨了各主要失效模式与失效机理之间的关系，为改进国产元器件的可靠性和开展系统“失效模式和效应分析”提供了重要的依据。

关键词： 半导体器件 半导体分立器件 失效模式

作者: 杨家铿

作者单位: 电子五所(广州)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 嘉峪关

会议语种:中文

页码: 122-127

在线出版日期: 1999-09-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）