红外热象测试与瞬态热阻的关系

摘要：

微波脉冲功率管通常采用双芯片结构，两芯片最高峰值温度差对器件电热稳定性有较大影响。

关键词： 集成电路芯片 微波脉冲功率管 红外热像 瞬态热阻

作者: 章海良

作者单位: 信息产业部电子五所(广州)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 嘉峪关

会议语种:中文

页码: 68-69

在线出版日期: 1999-09-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）