神经网络预测模型来评价电子元件的可靠性

摘要：

神经网络预测模型是评价电子元件可靠性的方法之一。其优点是预测精度高，可大大缩短试验时间，而且可根据初期试验数据得到MTTF值预测未来的MTTF值。本文将对这种预测方法进行分析，并和数理统计型自回归预测法做一比较和研究。

关键词： 可靠性预测 平均无故障时间 神经网络 自回归模型 碳膜电阻

作者: 李玉斌

作者单位: 广州通信研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 嘉峪关

会议语种:中文

页码: 155-160

在线出版日期: 1999-09-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）