数码管常见失效模式与机理分析

摘要：

本文介绍了数码管常见的失效模式，从数码管工艺结构和使用可靠性两方面分析了数码管失效机理。对生产、选购和使用数码管具有一定的参考价值。

关键词： 数码管失效模式 数码管 工艺结构

作者: 王宏全

作者单位: 航天总公司771所失效分析中心(西安)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 嘉峪关

会议语种:中文

页码: 205-208

在线出版日期: 1999-09-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）