影响半导体器件加速寿命试验结果准确性的几个问题

摘要：

就应力等级的选取，器件结温和失效时间的确定等讨论关于半导体器件加速寿命试验的几个具体问题。

关键词： 半导体器件 加速寿命试验

作者: 金毓铨

作者单位: 信息产业部电子55所

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 嘉峪关

会议语种:中文

页码: 149-150

在线出版日期: 1999-09-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）