电子元件高加速寿命试验及高加速应力筛选

摘要：

本文以片式瓷介电容器为例，介绍了电子元件高加速试验应力的确定方法。简述了电子元件高加速寿命试验（HALT）和高加速应力筛选（HASS）可靠性试验技术。

关键词： 电子元件 寿命试验 高加速应力

作者: 王锡清

作者单位: 信息产业部电子五所(广州)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 嘉峪关

会议语种:中文

页码: 209-213

在线出版日期: 1999-09-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）