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中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会
中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会
总文献量: 93篇
会议类型: 国内会议
会议地点: 重庆
主办单位: 中国电子学会
会议日期: 2004-10-01
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建立某武器控制系统地测设备在线故障诊断及使用维修系统研究
李玉平 陈力国 程崇峰
基于故障树的安全评估方法研究
曹锡江 王少龙 窦汝春 徐顺义
潮湿环境对集成电路可靠性的影响
章晓文
浅谈环境试验与可靠性试验
曾固
微电子器件多退化机理可靠性寿命外推模型
李志国 李杰 郭春生 程尧海
压电陀螺的失效率预计研究
聂国健 胡瑛 谭煊初
开关—移相器组件工艺质量优化
张晓明 何放 王韧 李萍 米村艳 王毅 范泽纯 焦慧芳
PMOSFET的NBTI效应
李若瑜 李斌 罗宏伟
通信网络系统可靠度分析及敏感度分析
朱云飞
行波管输能窗的封接可靠性研究
杨丹 叶菊芳 李少平 黄海涛
塑封半导体器件加速寿命试验方法及加速因子模型
丁芳芳 贾颖
备品备件数量确定方法的研究
肖明珠
浅谈电磁兼容性设计与测量
王延华
计算机技术在某武器控制系统装检测试中的应用
李玉平 傅国强
金属化孔开路失效原因分析案例
朱卫东 罗道军 郑廷圭
电子产品研制过程的可靠性管理
朱起悦
着火危险试验
张元钦
潜在电路分析及其应用
胡斌 黄清华
传统可靠性预计方法不准确的原因分析及其对策
常芳
可信性标准综述
李新祥
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