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中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会
中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会
总文献量: 93篇
会议类型: 国内会议
会议地点: 重庆
主办单位: 中国电子学会
会议日期: 2004-10-01
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电子元器件的贮存可靠性及评价技术
杨丹 恩云飞 黄云
微波器件失效分析结果统计与分析
来萍 李萍 张晓明 郑廷珪 李少平 徐爱斌 施明哲 牛付林 何小琦
电子电器设备中限制使用的六种有害物质的检测技术
周翠凤 罗道军
可靠性预计方法及一点思考
曾利伟 吕川
HALT与HASS技术原理及其应用
邓林
谈型号工程可靠性预计的价值及应注意的问题
高红丽
关于电子装备可靠性设计改进方法
高振平 王华
加强鱼雷陆上可靠性工作 改变实航验收方法
章黎明
关于电子装备软件研制的质量保证
李贤玉 王华 贺晖
类信息提取技术研究
于秀山
电子元器件可靠性增长方法
黄云
CAMAC测试系统使用维修研究
查向武 刘明珠 李海红
破坏性物理分析(DPA)技术的应用
牛付林
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