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中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会

总文献量: 93篇会议类型: 国内会议会议地点: 重庆主办单位: 中国电子学会会议日期: 2004-10-01

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国际标准IEC61014《可靠性增长大纲》的修订

梅文华

高加速寿命试验(HALT)技术综述

林震

CPU技术发展及其可靠性评价研究

焦慧芳温平平贾新章

研制产品环境应力筛选条件探讨

郑介春

高加速应力试验(HAST)用于倒装焊(Flip Chip)领域

魏建中王群勇罗雯肖国伟陈正豪

环境应力筛选探讨

白康明

环境应力筛选剔除产品早期故障的实践

王志刚戴柏林时淑萍

环境对舰船通信天线可靠性的影响和对策探讨

郭字洲

故障树分析(FTA)技术概述

莫世禹

通信电源的质量和可靠性

郭从良张琳铃孙鑫饶婷周骅强

可靠性试验中的设计缺陷测试模型

吕高焕朱亮

反坦克导弹的可靠性直接影响射击效能

张则敏黄静

机电产品可靠性验证指数——威布尔修正统计试验方法研究

艾永春岳朝生

PCBA-PTH焊点失效原因分析

贺光辉罗道军郑廷珪

基于FEM的栅控电子枪模态分析

宋芳芳何小琦

C4ISR系统可靠性评价研究

胡鹏曾熠袁卫卫

PCB板的腐蚀失效及分析案例

徐爱斌郑廷圭

图形用户界面(GUI)容错设计

于秀山

兵器装备用元器件二次筛选试验技术

王勇张新

软件缺陷模型与实现方法

张洪伟韩柯