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中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会

总文献量: 93篇会议类型: 国内会议会议地点: 重庆主办单位: 中国电子学会会议日期: 2004-10-01

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电子测量仪器的环境试验

陈克难

CY2型包封云母电容器的失效分析

范士海

电子产品贮存环境适应性设计浅析

齐俊臣刘春和刘海敏

军用微电子抗高过载技术研究综述

夏俊生

太阳辐射试验技术

王忠

电子装联技术对产品可靠性的影响

倪靖伟汪方宝

CARMES在某测试装置可靠性预计中的应用

朱亮

贮存可靠性评定的Bayes方法探讨

李新俊刘春和齐俊臣林荣生

闩锁效应对CMOS器件的影响分析

林晓玲费庆宇

电子产品中的缺陷和故障类型及解决方法

王志刚时淑萍戴柏林

光电器件可靠性强化试验理解与实施

许少辉魏建中陈波

集成电路失效分析技术

费庆宇

优化设计技术在军品研制中的应用

雷彦茂

电子信息系统质量模型

郭从良黄萍莉刘常亮余熙于鹏飞

加速度测量装置结构可靠性设计

汪燕

浅谈自动控制系统的可靠性设计应注意的若干问题

张继辉

USB OTG一致性测试

陈波魏建中许少辉

一个C<”4>ISR系统可靠性评价分析工具的设计与实现

刘俊先曾熠

汽车电子元件和子系统的EMC测试

黄楚彬

贮存可靠性研究

刘春和李久祥李新俊