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中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会

总文献量: 93篇会议类型: 国内会议会议地点: 重庆主办单位: 中国电子学会会议日期: 2004-10-01

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有限元模拟技术在电子部件可靠性分析中的应用

何小琦邱宝军宋芳芳杨序贵

电子产品质量信息管理平台

周厚明

用于高速信号传输的铜聚酰亚胺多层基板

李萍何小琦

超深亚微米集成电路可靠性技术

恩云飞孔学东

多芯片组件(MCM)热模拟

邱宝军

产品可信性验证试验方法

邝志礼

复杂系统贮存可靠性综合评估

于丹杨军

工艺是提高产品质量的关键

戴爱节金毓铨

环境试验对系统设备影响分析

于迎

试论软件可靠性工程的方法论对软件测试的指导意义

石应华王志刚

MOS器件的X射线辐照效应

刘远李若瑜恩云飞李斌罗宏伟师谦

薄栅氧化层斜坡电压TDDB寿命评价

王茂菊李斌章晓文陈平韩静

环境应力对电子设备可靠性的影响

庞富丽

电子设备的可靠性设计分析

张青山

已知干球温度与相对湿度求干湿差的一种计算方法

陈云生

大型工程研制及采购活动中的可靠性监理计划

丁以华

战术导弹全弹故障模式影响及危害性分析方法研究

陈万创张绍伟

使用电路板级测试的塑封微电路的鉴定

刘涌

型号可靠性管理浅谈

李锋飞

几种新型的电子显示器件

杨晓明