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中国电子学会可靠性分会第十届学术年会

总文献量: 72篇会议类型: 国内会议会议地点: 大同主办单位: 中国电子学会会议日期: 2000-10-01

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印制电路板用继电器粘结故障失效分析

蔡懿

元器件内在质量评价技术

贾新章

GaAs MESFET的红外温度分布精确测量

程尧海李志国孙英华张万荣吕长志

根据均方根加速度修正功率谱图

阳川

集成电路可靠性升级试验的工程应用

江理东夏泓

防止可靠性设计与分析中的若干片面性

丁定浩

软件可靠性技术及其工程应用的探讨

刘杰杨春晖

片式电子元件可靠性的快速评价

王锡清冯泽松

军用热电池可靠性设计技术与评估方法

董静梅金朴黄来和

国外塑封微电路的可靠性研究进展

肖虹蔡少英刘涌

浅谈通信设备软件可靠性与可靠性管理

雷彦茂

某产品性能可靠性评估初步研究

高德记

装备维修备份器材的科学筹划

杨家铿

沸合多芯片组件(MCM-C/D)互边结构与可靠性

何小琦

铟柱倒装焊互连的评价研究

姜小波刘发张雁冰

一种新型的单引出端EBIC成像技术

施明哲费庆宇

浅谈可靠性技术与应用

陈(赤贞)

集成电咱金属化可靠性评价技术

恩云飞章晓文罗宏伟

AlGaN/GaN双异质结HEMT的高温工作性能

吕长志冯士维王东观谢雪松松小玲张迪何焱

导弹检测设备的运输试验不能取代振动冲击试验

张则敏柴忠先