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中国电子学会可靠性分会第十届学术年会
中国电子学会可靠性分会第十届学术年会
总文献量: 72篇
会议类型: 国内会议
会议地点: 大同
主办单位: 中国电子学会
会议日期: 2000-10-01
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文章浏览
CMOS电路ESD潜在损伤定位分析研究
来萍 刘发 罗宏伟
振动试验中夹具问题的探讨
华明海
电子装备现场使用可靠性数据的统计、分析和利用
郭树端
可靠性强化试验-概论
叶迪镇
机载大型电子设备可靠性验证试验方法探讨
孙锦阳
半导体器件检验中的结构相似技术
金毓铨
随机振动数据归纳的统计极限法
程德斌
稳态可用性验证试验方法的统计原理及应用
邝志礼 项南解
用计算法评价激光调阻后膜电阻器的可靠性
张延伟 夏泓 陈雁
SiGe异质结双极晶体管基区杂质外扩及缓冲层优化
李志国 汪东 张万荣
S波段四位PIN数字移相器按地孔失效机理与分析
黄云 来萍 郑廷圭
片式元件剪切强度试验的测试方向研究
张延伟 夏泓 于庆奎 冯洁 何成山
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