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中国电子学会可靠性分会第十届学术年会

总文献量: 72篇会议类型: 国内会议会议地点: 大同主办单位: 中国电子学会会议日期: 2000-10-01

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锂亚硫酰氯电池贮存过程的交流阻抗研究

罗道军肖庆中

TH-E:MOS器件可靠性寿命综合模拟软件

罗宏伟孔学东钟征宇谭超元

可靠性增长的管理策略

田开让

VCD/DVD视盘机的自动测试程序研究

杨晓明陈立辉宋丹枚王桂兰

可靠性信息丢失率研究

刘宝华

软件可靠性综合评估方法初探

张苑民

固体火箭发动机可靠性设计分析试验及评定途径

魏爱良

提高控制中心人可靠性的途径

童时中

光电耦合器电流传输比CTR的退化现象和退化机理

徐爱斌李少平欧叶芳郑延圭

GaAs MESFET栅极漏电流退化机理分析和新筛选方法研究

黄云费庆宇

开关稳压电源用铝电解电容器的失效机理

王锡清王文建

制导站分系统的可靠性验证

陆彪

某型飞机火控计算机等可靠性鉴定试验及分析

岳朝生

某空-空导弹可靠性试验样品实测温度与剖面温度跟随性分析

章黎明

功率器件热阻测试中的快速壳温恒定装置

谢雪松冯士维张小玲吕长志谢云松

军用电子设备分布参数估计的虚拟样本法

肖锡玉朱三可齐俊臣

绝缘栅双极晶体管(IGBT)模块的可靠性研究

崔雪青刘秀兰王彦刚武力吴武臣

Si-Al丝键合强度退化机理研究

刘学如陈光炳葛良兵许爱群赵光辉

ISO14000的发展动态及国内外放证形势

毛孝明

系统可靠性综合分析软件包-RAP

于丹