高加速寿命试验(HALT)技术综述

摘要：

高加速寿命试验(HALT)是一种新兴技术,它使用在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节.本文从研究开发HALT的背景出发,详细探讨了HALT对应力曲线和强度曲线的影响.HALT的归属、HALT的优缺点和目的、HALT与传统试验、HALT与可靠性预计、HALT与HASS的关系、高加速基本原理、HALT的基本过程、HALT试验项目、HALT试验系统、HALT应注意的问题和确保HALT成功的建议.

关键词： 工作极限 破坏极限 裕度 高加速寿命试验 电子产品 可靠性

作者: 林震

作者单位: 中国工程物理研究院电子工程研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会

会议地点: 重庆

会议语种:中文

页码: 171-182

在线出版日期: 2004-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）