CPU技术发展及其可靠性评价研究

摘要：

本文通过对CPU工作原理的考察和对发展趋势的分析,得出CPU发生失效的几率越来越高而且原因也越来越多,同时也指出老化筛选试验技术仍然是CPU质量和可靠性保障的重要手段.面对CPU飞速发展所带来的新问题,老化技术面临着许多有待解决的新的技术挑战,强调了确定可操作的CPU老化试验技术规范的紧迫性.

关键词： 等比缩小 可靠性 老化试验 电子计算机

作者: 焦慧芳 温平平 贾新章

作者单位: 西安电子科技大学微电子研究所;信息产业部电子第五研究所 西安电子科技大学微电子研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会

会议地点: 重庆

会议语种:中文

页码: 414-421

在线出版日期: 2004-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）