可靠性试验中的设计缺陷测试模型

摘要：

文章介绍了可靠性试验中关于设计缺陷测试的分段失效模型,从概率论的观点讨论了系统通过测试的期望概率和测试成功概率,综合起来讨论了成功通过测试后需要的平均重复成功测试次数,并给出了该模型的分析结果.

关键词： 级连系统 设计缺陷 分段失效模型 系统生存概率 可靠性试验 电子产品

作者: 吕高焕 朱亮

作者单位: 中国工程物理研究院电子工程研究所(四川绵阳)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会

会议地点: 重庆

会议语种:中文

页码: 166-170

在线出版日期: 2004-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）