片式元件剪切强度试验的测试方向研究

摘要：

片式元件的剪切力试验是验证和评价电容器粘接强度的一个有效手段，但是对于长方体片式无伯采用不同的测试方向（即在长边上和短边眩施力进行剪切）得到的测试结果可能相差40℅左右，该文从理论和试验的角度研究了两种不同方向对片式元件进行剪切力试验，分析了试验数据，提出从可靠性角度，应选择在长边方向上进行剪切强度测试的原因。

关键词： 片式电子元件 剪切强度试验 测试方向

作者: 张延伟 夏泓 于庆奎 冯洁 何成山

作者单位: 中国空间技术研究院511所(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会可靠性分会第十届学术年会

会议地点: 大同

会议语种:中文

页码: 167～173

在线出版日期: 2000-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）