半导体器件检验中的结构相似技术

摘要：

该文讨论结构相似器件的基本概念和检验中运用结构相似技术的几个问题。

关键词： 半导体器件 结构相似 可焊性检验

作者: 金毓铨

作者单位: 信息产业部电子第五十五研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会可靠性分会第十届学术年会

会议地点: 大同

会议语种:中文

页码: 230～232

在线出版日期: 2000-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）