闩锁效应对CMOS器件的影响分析

摘要：

CMOS电路的引出端(包括输出、输入、电源端和地端)受到外界电压电流信号的触发,容易产生闩锁效应,闩锁效应不但是CMOS电路的主要失效机理,而且是阻碍CMOS电路集成度提高的主要因素之一.本文同时列举了几个闩锁效应引起器件失效的例子,以供参考.

关键词： 寄生可控硅 闩锁效应 CMOS器件 集成电路 可靠性

作者: 林晓玲 费庆宇

作者单位: 信息产业部电子第五研究所,电子元器件可靠性物理及其应用技术国防科技重点实验室

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会

会议地点: 重庆

会议语种:中文

页码: 444-448

在线出版日期: 2004-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）