绝缘栅双极晶体管(IGBT)模块的可靠性研究

摘要：

该文主要报道IGBT模块可靠性的一些试验结果及失效分析结果。模块开关试验观测到IGBT锁定失效揭示了模块驱动电路对其开关特性的影响。400安/1200伏IGBT模块功率循环寿命试验结果表明引线压焊是目前影响IGBT模块长期工作寿命的主要因素。上述试验结果和理论分析相符。

关键词： IGBT模块 循环寿命试验 锁定效应 可靠性分析

作者: 崔雪青 刘秀兰 王彦刚 武力 吴武臣

作者单位: 北京工业大学电子工程系

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会可靠性分会第十届学术年会

会议地点: 大同

会议语种:中文

页码: 246～250

在线出版日期: 2000-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）