功率器件热阻测试中的快速壳温恒定装置

摘要：

在半导体器件热阻的测试中，尤其是低热阻的功率器件，壳温的精确恒定直接影响测试的结果的精度。该文叙述了利用单片机技术，结合半导体制冷器实现了从-2℃～+82℃的 快速温度恒定，并且可以以各种斜率实现温度递升或递降，为精确测量半导体器件热阻和温度特性提供了一个可控恒温平台。

关键词： 热阻测试 温度特性 单片机 壳温恒定装置

作者: 谢雪松 冯士维 张小玲 吕长志 谢云松

作者单位: 北京工业大学可靠性物理研究室

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会可靠性分会第十届学术年会

会议地点: 大同

会议语种:中文

页码: 210～215

在线出版日期: 2000-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）