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中国电子学会可靠性分会第十三届学术年会
中国电子学会可靠性分会第十三届学术年会
总文献量: 82篇
会议类型: 国内会议
会议地点: 福建武夷山
主办单位: 中国电子学会
会议日期: 2006-10-22
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文章浏览
提高电子元器件使用可靠性的方法
于迎
开关电源电磁兼容设计与可靠性
余海涛
高压积分电路的失效原因分析及工艺改进措施
范士海
舰载电子设备可靠性设计
刘崟 刘江燕
提高混合集成生产过程一次送检合格率质量管理方法
贺钲 高能武
GJB899中飞机振动试验应力设计的探讨
时钟 邝志礼
产品可靠性与故障分析(p.15-19)
王步冉
板卡级产品环境应力筛选(ESS)技术
汪卫华
浅谈影响环境应力筛选效果的因素
焦亮
半导体器件的贮存寿命
徐立生 高兆丰 梁法国 张士芬
指挥自动化系统嵌入式软件可靠性评估
贡岩 黄琳
信息系统应用软件可靠性设计技术
王华 向刚 张法江
电子战可靠性信息管理平台展望
龚懿 邓林
CMOS电路瞬态电流测试技术动态
张鹏 焦慧芳 贾新章
HEMT器件2DEG沟道退化相关机理研究
崔晓英 黄云
偏置条件对NMOS器件X射线总剂量效应的影响
何玉娟 师谦 罗宏伟 章晓文 李斌 刘远
塑封器件受潮的各种失效模式、机理及潮敏控制
郑国红 彭轶 胡卫华
关于软件可靠性的若干认识
应晓慧
导弹武器系统战前的质量保障
张则敏
再议舰船装备可靠性
施建荣
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