半导体器件的贮存寿命

摘要：

本文从失效机理出发,探讨了半导体器件的贮存寿命,提供了3种美国军用半导体器件长期贮存的实例,介绍了俄罗斯的规范,建议对超期复验中的有效贮存期作必要的修订.

关键词： 半导体器件 失效机理 贮存寿命 超期复验 可靠性

作者: 徐立生 高兆丰 梁法国 张士芬

作者单位: 中国电子科技集团公司第十三研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会可靠性分会第十三届学术年会

会议地点: 福建武夷山

会议语种:中文

页码: 223-225

在线出版日期: 2006-10-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）