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2006年光学测量技术研讨会
2006年光学测量技术研讨会
总文献量: 13篇
会议类型: 国内会议
会议地点: 杭州
主办单位: 中国宇航学会
会议日期: 2006-05-01
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超光滑表面评价问题初探
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光学数字影像测量中的精密数字成像和误差原则
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