电子元器件可靠性增长方法

摘要：

对于失效率低或批量小的电子元器件,已很难应用传统的可靠性试验进行可靠性评估,本文探讨了将成品率、标准偏差(σ)、工序能力指数C<,PK>等工艺制造参数作为可靠性增长的指标,从FMEA分析、可靠性设计和工艺保障角度实现元器件可靠性增长的方法.为元器件可靠性增长的指标选择和制定、以及可靠性增长技术提出了更灵活和实用的选择.

关键词： 可靠性增长 失效模式 工艺保障 电子元器件

作者: 黄云

作者单位: 信息产业部电子第五研究所电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会

会议地点: 重庆

会议语种:中文

页码: 203-208

在线出版日期: 2004-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）