电子元器件的贮存可靠性及评价技术

摘要：

贮存可靠性是元器件可靠性研究的重要方面.阐述了国内外元器件的贮存可靠性研究现状,从应用性角度出发,对现场贮存、长期自然贮存试验、极限应力、加速贮存寿命试验等贮存可靠性评价技术进行了对比分析.

关键词： 贮存可靠性 长期自然贮存 极限应力试验 加速贮存寿命试验 电子元器件

作者: 杨丹 恩云飞 黄云

作者单位: 信息产业部电子第五研究所,电子元器件可靠性物理及应用技术国家级重点实验室

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会

会议地点: 重庆

会议语种:中文

页码: 287-292

在线出版日期: 2004-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）