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第五届中国测试学术会议
第五届中国测试学术会议
总文献量: 108篇
会议类型: 国内会议
会议地点: 苏州
主办单位: 中国计算机学会
会议日期: 2008-05-21
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基于V93000测试系统的存储器测试方法研究和实现
胡勇 吴丹 沈森祖 石坚
基于边界扫描的电路互联故障诊断分析
廖明燕
TDR DIB design rules for testability and reliability
TROY Zhang
Introduction to Image Sensor Device Testing
李鉴睿 吴坚
一种容软错误的高可靠BIST结构
黄正峰 梁华国 陈田 詹文法 孙科
NAND Flash的ECC分级及其在ATE设备中的测试方法
刘恕
软件复杂度的评估及评估系统的实现
褚彦明 朱经纷 徐拾义
基于UCM的组件集成测试方法
刘玉林 李华
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