NAND Flash的ECC分级及其在ATE设备中的测试方法

摘要：

ECC校验技术被越来越多地应用于大容量NAND型FLASH存储器中,本文讨论了在采用了MLC技术的NAND型FLASH中使用ECC校验的必要性、ECC分级方法,以及在ATE设备中进行ECC Grade测试的方法。

关键词： 椭圆曲线加密 FLASH存储器 自动测试设备

作者: 刘恕

作者单位: 爱德万测试(苏州)有限公司上海分公司,中国 上海 200233

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届中国测试学术会议

会议地点: 苏州

会议语种:中文

页码: 401-403

在线出版日期: 2008-05-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）