基于V93000测试系统的存储器测试方法研究和实现

摘要：

存储器芯片是一种应用广泛的数字集成电路,必须经过许多必要的测试以保证其功能正确.对于其入厂检测来说,测试向量不仅要自行开发,而且需要达到一定的覆盖率才能检测出存储器的绝大部分功能性错误,这对测试方法、测试设备提出了较高的要求.本文分析了V93000测试系统上存储器测试向量开发的工作原理,讨论了存储器的测试方法,并基于V93000测试系统实现了存储器的测试.

关键词： 测试向量 测试算法 存储器芯片 数字集成电路 电路测试

作者: 胡勇 吴丹 沈森祖 石坚

作者单位: 武汉数字工程研究所,中国 武汉 430074

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届中国测试学术会议

会议地点: 苏州

会议语种:中文

页码: 407-409

在线出版日期: 2008-05-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）