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中国电子学会可靠性分会第十四届学术年会

总文献量: 79篇会议类型: 国内会议会议地点: 海口主办单位: 中国电子学会会议日期: 2008-11-01

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某质量信息系统对应用环境的要求

尹凤仪李和平李霄张立新

USB端子产生锈蚀的机理研究

蔡颖颖罗道军

地空导弹发射飞行可靠度试验方案和试验剖面设计

王和平

高可用性技术在装备信息系统可靠性工程中的应用

衣彬李霄张立新沈云秋

军用软件的可靠性及其保证

孟涛李俊张立新赵曦晶

组织质量问题归零的实践方法探讨

张根红

基于体系结构技术的C4ISR系统可靠性建模研究

郭浩刘俊先

装备保障性分析与评定

王华向刚姜波

美军可靠性标准和规范的变革与沿革现状

施建荣

基于静态测试工具的软件测试方法研究

李华莹于秀山

关于随机振动试验

华明海

加强可靠性管理提高装备质量水平

孙引朝叶宋阳石成英

超薄栅氧化层中应力诱导漏电流的研究

熊海孔学东章晓文

基于数据库的装备质量信息可用度评估

李俊孟涛赵韶平张立新

霉菌试验箱的选用及检定

潘飞

MOSFET 亚阈值斜率随温度变化关系研究

齐领恩云飞章晓文

产品研制中的环境试验应用考虑

胡林忠

军品贮存延寿论证分析

侯海梅宁云晖李久祥

CMOS技术按比例缩小及对老化的影响

王锦阳

电子产品生产调试中的质量管理

曾军旗