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第六届中国测试学术会议
第六届中国测试学术会议
总文献量: 103篇
会议类型: 国内会议
会议地点: 合肥
主办单位: 中国计算机学会
会议日期: 2010-07-24
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基于I/O关系的适应性随机测试
聂剑平 曹旭 钱越英 陈昱松
一种基于数据通路挽救的高可靠片上互联网络设计
刘成 张磊 韩银和 李晓维
采用重配置技术压缩FPGA内BRAM的测试时间
李智韬 冯建华 罗宏伟
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