A MCM Interconnect Test Generation Optimization Scheme Based on Ant Algorithm and Genetic Algorithm
国际会议
2005 6th International Conference on Electronics Packaging Technology(第六届电子封装国际会议)
深圳
英文
710-713
2005-08-30(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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2005 6th International Conference on Electronics Packaging Technology(第六届电子封装国际会议)
深圳
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710-713
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