国产TDR特性阻抗测试仪同国际品牌不相上下

摘要：

本文从信号传输完整性角度出发,阐述了特征阻抗在传输线中的重要意义,并在此基础上介绍了时域反射技术在阻抗测试中的基本原理.同时将国内首次研发的ASIDA TDR阻抗测试仪与国外的特征阻抗测试仪进行了比较,分析性能特征,表明国产仪器性能水平同国际品牌不相上下.

关键词： 印制电路板 特征阻抗测试仪 时域反射技术 信号完整性

作者: 邓世文 刘金凤 蔡林

作者单位: 广东正业科技股份有限公司 广东东莞 523270

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国印制电路学术年会

会议地点: 无锡

会议语种:中文

页码: 219-225

在线出版日期: 2012-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）