SEM&EDS在PCB失效分析中的应用

摘要：

本文简单介绍了扫描电子显微镜(SEM)和能谱仪(EDS)的分析原理及用途,并结合实际案例讲解了SEM&EDS分析技术在PCB失效分析中的作用.

关键词： 印制电路板 失效分析 扫描电子显微镜 能谱仪 质量控制

作者: 王斌 许永章 李周文

作者单位: 信丰正天伟电子科技有限公司,江西赣州341000

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国印制电路学术年会

会议地点: 无锡

会议语种:中文

页码: 758-761

在线出版日期: 2012-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）