多芯片系统可靠性技术

关键词： 多芯片组件 可靠性 集成电路

作者: 杨克武 杜磊 庄奕琪

作者单位: 产业部电子13所 电子科技大学

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十一届全国混合集成电路学术会议

会议地点: 深圳

会议语种:中文

页码: 120～124

在线出版日期: 1999-09-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）