Ⅱ型多层陶瓷电容器(MLC)的快速无损检测方法

摘要：

本文介绍了一种适用于Ⅱ型铁电类多层陶瓷电容器(MLC)的快速无损检测方法,这一测试方法是建立在铁电类MLC旋加直流偏压时产生机电谐振现象的基础之上,电容器的内部缺陷会严重影响电容器的机电谐振,谐振过程所受到的阻尼可以很好地表征MLC的缺隐。选择电容沿宽度方向、横向伸缩振动模式的基波反谐振阻抗Z＜，a＞作为失效判定参量，以其模值的大小作为MLC的筛选判据。

关键词： 多层陶瓷电容器 快速无损检测

作者: 魏建中 武志刚 王实 张良莹 姚熹

作者单位: 电子部五所分析中心(广州) 西安交通大学电子材料研究所(西安)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 嘉峪关

会议语种:中文

页码: 219-222

在线出版日期: 1999-09-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）