浅述PCB电性测试设备的发展趋势

摘要：

新的封装技术以及新的工艺将逐步在PCB的制程上使用,PCB的电性能测试将显得格外重要,本文介绍了现阶段PCB电性能测试技术的发展和分类,PCB电性能测试技术和测试设备的现状,未来PCB测试设备的发展方向以及测试设备急需突破的技术瓶颈。

关键词： PCB光板 封装技术 电性能测试 测试设备 发展趋势 技术瓶颈

作者: 侯育

作者单位: 深圳大族明信电子有限公司

会议类型: 国内会议

会议名称: 2009中日电子电路秋季大会暨秋季国际PCB技术/信息论坛

会议地点: 深圳

会议语种:中文

页码: 355-362

在线出版日期: 2009-10-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）