一种基于VERA的验证大规模芯片的方法

摘要：

本文对大规模芯片的验证方法进行了研究，结合实际项目介绍了一种基于VERA的验证平台,这种验证平台可用于大规模数据通信芯片的验证。

关键词： 集成电路 芯片设计 电路验证

作者: 王锦山 王恒军 赵立

作者单位: 中兴通讯股份有限公司康讯研究所,深圳,518057

会议类型: 国内会议

会议名称: 2005中国集成电路产业发展研讨会暨第八届中国半导体行业协会集成电路分会年会

会议地点: 江苏常州

会议语种:中文

页码: 134-137

在线出版日期: 2005-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）