特性阻抗的模拟设计与测试

摘要：

本文主要通过对不同尺寸阻抗试样及不同大小阻抗试样的阻抗测试TDR迹线的分析,对特性阻抗模拟设计试样的尺寸及阻抗大小与Polar CITS测试系统的测试区域的选取之间的关系进行阐述,以便为特性阻抗模拟试样的设计与测试提供参考。

关键词： 印刷电路板 特性阻抗 模拟设计试样 测试区域

作者: 何思军

作者单位: 汕头超声印制板公司

会议类型: 国内会议

会议名称: 2005春季国际PCB技术信息论坛

会议地点: 上海

会议语种:中文

页码: 352-358

在线出版日期: 2005-03-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）