一种全自动光学检测中芯片字符识别算法研究与实现

摘要：

本文根据实际应用中AOI系统芯片贴装质量检测的要求,提出了一种芯片字符分割识别方法,将待测芯片的图像与标准图像的字符进行识别比对,达到提高芯片贴装质量检测的目的。此方法的应用,可以大大的降低AOI误报的情况,提高AOI系统的质量检测可靠性。

关键词： 自动光学检测 图像预处理 字符分割 字符识别 AOI系统 芯片贴装质量

作者: 周武

作者单位: 华南理工大学精密电子制造装备教育部工程研究中心 自动化学院

会议类型: 国内会议

会议名称: 2008中国高端SMT学术会议

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 500-505

在线出版日期: 2008-10-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）