工艺测试面临的挑战

摘要：

本文介绍了AOI、AXI、ICT三种测试技术在当前工艺技术不断发展的情况下所面临的困难和挑战,同时也探讨了应对这种挑战的方法和措施。

关键词： 电子封装 工艺测试 AOI技术 AXI技术 ICT技术

作者: 唐雷

作者单位: 华为技术有限公司产品工程部

会议类型: 国内会议

会议名称: 2008中国高端SMT学术会议

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 506-512

在线出版日期: 2008-10-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）