AOI技术初探

摘要：

本文较系统地介绍了当前AOI技术的现状和面临的主要技术难题;阐述了AOI技术取得了“程序一次确定性和高重复性”的重大突破点。为AOI技术的发展大大地向前推进了关键性的一步。

关键词： 电子封装 AOI技术 自动光学检测 程序一次确定性 高重复性 低误判

作者: 严仕新

作者单位: 苏州德天自动化科教有限公司

会议类型: 国内会议

会议名称: 2008中国高端SMT学术会议

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 618-623

在线出版日期: 2008-10-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）