边界扫描技术在复杂电路缺陷检测中的应用

摘要：

在我国的电子产品制造业，传统的顶针测试方法伴随着电路越来越复杂，元件密度日益加大而面临严峻的考验。利用边界扫描技术可以很好地解决进行电路功能与缺陷检测的问题，增加设备的可维护性.文章在介绍边界扫描技术的基础上，提出了一个基于BST技术的基本电路缺陷检测方案.

关键词： 边界扫描 电路缺陷检测 电子产品 可维护性 BST技术

作者: 陈粟宋 肖文平

作者单位: 顺德职业技术学院广东佛山528333

会议类型: 国内会议

会议名称: 2008中国电子制造技术论坛

会议地点: 广东东莞

会议语种:中文

页码: 1-6

在线出版日期: 2008-10-11（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）