百例失效分析反映的元器件应用问题

摘要：

本文回顾了研究分析中心近几年对使用中失效的元器件的分析结果，对失效模式作了粗略的统计，在半导体和微电子器件中EOS/ESD导致的失效占总失效数的四成多，是影响器件应用可靠性的最重要因素。正确选择器件、针对性的检验和适当的使用设计与防护技术，是降低EOS/ESD失效的重要措施。此外，在电子行业中，加工工艺粗糙仍然制约着国内产品的质量。

关键词： 电子元器件 失效分析

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 嘉峪关

会议语种:中文

页码: 178-182

在线出版日期: 1999-09-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）