电容器失效分析中的红外热像仪短路定位技术

摘要：

介绍了红外热像探测技术在电容器失效分析中的应用。红外热像探测技术在电容器短路失效的定位方面具有快速、准确的特点，是电容器短路失效定位的一种简便方法。该方法与光学或电子显微技术相结合，为电容器的失效机理分析提供了一种方便的技术途径。

关键词： 电容器失效分析 红外热像仪 短路定位技术

作者: 陈伟民 何小琦 张晓明 施明哲

作者单位: 信息产业部电子五所电子元器件失效分析中心(广州)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 嘉峪关

会议语种:中文

页码: 214-218

在线出版日期: 1999-09-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）