电气测试面临的挑战

摘要：

这些年里,由于市场的需求与技术的革命,半导体与印制板工业得到了长足的发展.然而由于印制板越来越小,也越来越复杂,设计工程师需要更多地考虑如何保证它们是可测试的,传统的测试方法和设备都面临着重大挑战,可测试的要求将会极大影响印制板的设计,如果测试技术没有突破,将会制约印制板工业的发展,需要及早研究开发新的测试方法.

关键词： 印制板 电气测试 测试方法

作者: 夏建亭 卢艳霞

作者单位: 中讯电子(昆山)有限公司

会议类型: 国内会议

会议名称: 北京电子学会表面安装技术委员会第二届学术年会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 59-60

在线出版日期: 1999-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）