低剂量率下双极晶体管的电离辐射效应

摘要：

在辐照的剂量率范围内,无论是国产还是进口的双极晶体管,都有明显的低剂量率辐照损伤增强现象,且纵向NPN管比PNP管严重.本文对引起双极器件辐照损伤差异的机理进行了探讨,并讨论了双极器件的抗辐射加固技术.

关键词： 低剂量率 电离辐射 双极晶体管 抗辐射加固

作者: 尹雪梅 师谦 李斌 何玉娟 刘远

作者单位: 电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室,广州,510610;华南理工大学微电子研究所,广州,510640 电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室,广州,510610 华南理工大学微电子研究所,广州,510640

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会可靠性分会第十三届学术年会

会议地点: 福建武夷山

会议语种:中文

页码: 319-323

在线出版日期: 2006-10-22（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）